日本理研錯(cuò)誤檢測(cè)裝置銷(xiāo)售南京園太 |
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日本理研錯(cuò)誤檢測(cè)裝置(MICRON 2)
特色
1. μ單位的高精度!
2. 操作性出衆(zhòng)的液晶畫(huà)面!
3.在1個(gè)畫(huà)面中同時(shí)顯示所有4ch的狀況!
4.以數(shù)位和條形顯示確認(rèn)每次的偏差!
5.畫(huà)面顯示下止點(diǎn)的經(jīng)時(shí)變化!
6.各種傳感器頭品種豐富!
顯示設(shè)定值對(duì)應(yīng)的檢測(cè)值狀態(tài),條形顯示的左端爲(wèi)設(shè)定值的-側(cè),右端爲(wèi)設(shè)定值的+側(cè). (中央爲(wèi)0的位置,左右各5等分.) 例)設(shè)定值爲(wèi)10時(shí),如下所示.
條形顯示刻度(單位:μm) 設(shè)定值爲(wèi)5以下時(shí),與5的設(shè)定相同. 在監(jiān)視值設(shè)定中,以條形顯示下止點(diǎn)位置,作爲(wèi)限定尺寸.
檢測(cè)方法
MICRONII是利用高性能接近開(kāi)關(guān)的廢料上跳檢測(cè)裝置.在每次的行程中,以μm的精度監(jiān)視下模與脫料板之間的距離,超出設(shè)定范圍時(shí)立即輸出停止信號(hào).
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