可以做LV324/AQG324認證的檢測機構(gòu)-廣電計量實驗室 |
||||||||||||||||||||
|
廣電計量可以做AEC-Q-100認證報告,AEC-Q-101認證報告,AEC-Q-102認證報告, AEC-Q-104認證報告,AEC-Q-200認證報告,元器件篩選,破壞性物理分析,NVH測試,
廣州廣電計量檢測股份有限公司(股票簡稱:廣電計量,股票代碼:002967)始建于1964年,是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站,經(jīng)過50余年的發(fā)展,現(xiàn)已成為一家全國化,、綜合性的國有第三方計量檢測機構(gòu),專注于為客戶提供計量,、檢測、認證以及技術(shù)咨詢與培訓等專業(yè)技術(shù)服務,在計量校準、可靠性與環(huán)境試驗,、電磁兼容檢測等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務規(guī)模處于國內(nèi)領(lǐng)先水平.
測試周期:
2-3個月,提供全面的認證計劃,、測試等服務
服務內(nèi)容:
廣電計量失效分析實驗室功率器件技術(shù)團隊,擁有豐富的功率半導體器件檢測,器件可靠性測試,以及可靠性測試設(shè)備設(shè)計制造的經(jīng)驗,可為您提供電學參數(shù)檢測,可靠性測試,失效分析及定制化服務.
產(chǎn)品范圍:
適用于MOSFET,Diode,IGBT,第三代半導體器件等元件構(gòu)成的功率模塊.
測試項目:
序號 | 測試項目 | 縮寫 | 樣品數(shù)/批 | 測試方法 | |
1 |
Thermal shock test |
TST | 6 | IEC 60749-25 | |
2 |
Vibration |
V | 6 | DIN EN 60068-2-6 | |
3 |
Mechanical shock |
MS | 6 | DIN EN 60068-2-27 | |
4 | Power cycling | PCsec | 6 | IEC 60749-34 | |
5 | Power cycle | PCmin | 6 | IEC 60749-34 | |
6 | High-temperature storage | HTS | 6 | IEC 60749-6 | |
7 | Low-temperature storage | LTS | 6 | JEDEC JESD-22 A119 | |
8 | High-temperature reverse bias | HTRB | 6 | IEC 60747-9 | |
9 | High-temperature gate bias | HTGB | 6 | IEC 60747-9 | |
10 | High-humidity, high-temperature reverse bias | H3TRB | 6 | IEC 60749-5 | |
11 | Determining parasitic stray inductance | Lp | 6 | IEC 60747-15 | |
12 | Determining thermal resistance | Rth | 6 | DIN EN 60747-15 | |
13 | Determining short-circuit capability | / | 6 | / | |
14 | Insulation test | / | 6 | / | |
15 | Determining mechanical data | / | 6 | / |
網(wǎng)站首頁 | 付款方式 | 關(guān)于我們 | 信息刪除 | 聯(lián)系方式 | 服務條款 | 版權(quán)隱私 | 網(wǎng)站地圖 | 專題 | 排名推廣 | 廣告服務 | 積分換禮 | 網(wǎng)站留言 | RSS訂閱 | 鄂ICP備14015623號-2
愛品網(wǎng)是一個開放的平臺,,信息全部為用戶自行注冊發(fā)布!并不代表本網(wǎng)贊同其觀點或證實其內(nèi)容的真實性,,需用戶自行承擔信息的真實性,,圖片及其他資源的版權(quán)責任! 本站不承擔此類作品侵權(quán)行為的直接責任及連帶責任。
如若本網(wǎng)有任何內(nèi)容侵犯您的權(quán)益,,請聯(lián)系: [email protected]
?2012-2021愛品網(wǎng) 免費信息發(fā)布平臺,,免費推廣平臺,免費B2B網(wǎng)站愛品網(wǎng) 10dcg.com