電子測試 

基本信息

曾用刊名:微電子測試

主辦單位:北京自動測試技術(shù)研究所

出版周期:半月

ISSN:1000-8519

CN:11-3927/TN

出版地:北京市

語種:中文

開本:大16開

郵發(fā)代號:82-870

創(chuàng)刊時間:1994

出版信息

專輯名稱:信息科技

專題名稱:無線電電子學(xué)

評價信息

(2018版)復(fù)合影響因子:

(2018版)綜合影響因子:

《電子測試》以介紹新電子技術(shù)和測試測量技術(shù)為主,秉承一貫的專業(yè)性和權(quán)威性的辦刊宗旨,堅持前瞻性,、技術(shù)性和實(shí)用性的編輯方針,為測試測量及自動控制業(yè)界的工程師和技術(shù)研發(fā)人員提供了全新可靠的技術(shù)與應(yīng)用和行業(yè)資訊.

欄目設(shè)置:設(shè)計與研發(fā),、虛擬儀器技術(shù),、微處理器與編程器件的應(yīng)用,、新品評測特集,、測試工具與解決方案、新軟件,、新硬件,、產(chǎn)品咨詢與行業(yè)新聞