一,、儀器簡介:

 XDXIII-F350A型無損測試設(shè)備采用F350數(shù)字成像系統(tǒng)成像, 微焦點(diǎn)射線管集約束散射線,數(shù)字成像,圖像清晰.儀器全數(shù)字化軟件使用功能;正反選圖像、圖像放大縮小,、左右旋轉(zhuǎn),前后旋轉(zhuǎn),、翻轉(zhuǎn)、數(shù)字化高清灰度圖像采集,、千兆網(wǎng)端有線連接,電腦即時(shí)成像,、存儲(chǔ)和即時(shí)打印測試圖片. 便攜式設(shè)計(jì),、使用可靠,、方便.

二、儀器特點(diǎn):

 XDXIII-F350A型無損測試設(shè)備,主要針對電子元器件,、封裝元器,、半導(dǎo)體元器件、BGA,、CPU,、pcbA、IC芯片,、集成電路,、連接器、電熱絲,、電路板,、發(fā)熱管、發(fā)熱絲,、電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否變形,、脫焊,、空焊移位、等測試;同時(shí)還可用于:鑄件,、壓模鑄件,、注塑件、氣孔,、氣泡等測試.

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