XTU系列X熒光光普測厚度

  儀器簡介

XTU系列測厚儀雖然結構緊湊,但是都有大容量的開槽設計樣品腔,即使超過樣品腔尺度的工作也可以超過測試.

配搭微聚焦射線管和較先進的光路設計,以及變焦算法裝置,可測試極微小和異形樣品.  

檢測78種元素鍍層.檢出限.較小測量面積㎡.較深凹糟可達90mm.

外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精密,速度10-30mm(X-Y)/圈,較小再多的樣品都沒難度,讓操作人員輕松自如.

應用領域

.線路板,引線框架及電子元器件接插件檢測

.度純金,K金,鉑,銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

.手表,精密儀表制造行業(yè)

.釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Cu/Ni/FeNdB

.汽車,五金,電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

.衛(wèi)浴產(chǎn)品,裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

.電鍍液的金屬陽離子檢測

  性能優(yōu)勢

.下照式設計:可以快熟方便地定位對焦樣品.

.無損變焦檢測:可對各種異性形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm.

.為聚焦射線裝置:可檢測面積小于㎡的樣品,可測試個微小的部件.

高效率的接收器:即使測試㎡         以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性

.精密微型滑軌:快速定位樣品

.EFP先進算法軟件:

多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件

技術參數(shù)

元素分析范圍:氯(cl)~鈾(U)

厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次性同時分析:23層鍍層,24種元素

厚度較低出限:

較小測量面積:㎡(多重準值器可選)

對焦距離:0~90mm(測試凹槽,可變焦)

樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm(C型設計,允許測試超出樣品腔板狀物體)

儀器尺寸:550mm×480mm×470mm

儀器重量:55㎏