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檢測開關的用途及使用方法 

檢測開關根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出使用方法.

1.接點輸出式

以微型開關,、限位開關,、繼電器的接點為輸出的開關要素,與電磁開關、小型馬達,、電磁器等連接作為主要目的,可進行數(shù)安培電流的開關控制.與電子控制設備連接時,需注意振動時間,、最小負荷電流.

2.光電耦合輸出式

檢測電路電氣絕緣,與接點輸出式的使用方法相同.可控制10～50mA電流的開關.

3.直流3線式

a. 電壓輸出型

進行檢測時,向負荷輸出電壓信號.電壓輸出型主要是以連接由電子計數(shù)器、無接點繼電器等的晶體管或IC構成的電子控制設備為目的而制造的.

b. 電流輸出型

亦可稱為開放,、集電極輸出型.輸出晶體管動作時,有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源).輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管,則可進行50～200mA電流的開關,并可直接進行電磁繼電器,、電磁閥、直流電磁器,、顯示燈等負荷的驅(qū)動.

4. 直流2線式

該方式的接近開關有2根導線,因此,使用時對極性予以注意的話,不僅使用方法可與機械式限位開關相同,而且配線簡單,但需注意下述狀況.

(1) 即使開關處于關閉狀態(tài),也需向接近開關的檢測電路供給電流.為此,負荷中有微量電流流動.該電流稱為漏電流.漏電流時,負荷兩端產(chǎn)生"漏電流×負荷也是造成使用初期故障的原因.初期故障的發(fā)生時間,根據(jù)制造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi).

2.偶發(fā)故障

包括由于半導體部件的不良而引起的故障,電阻,、電容的斷線,、短路、容量不足,電路板的電路斷裂,、帶焊料等的不良現(xiàn)象,但發(fā)生率極低.接近開關經(jīng)常發(fā)生故障時,可以考慮為使用環(huán)境的問題,請向廠家咨詢.

3.負荷短路與配線錯誤

由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負荷短路時,導致大電流流向檢測開關,輸出回路燒毀.作為在檢測開關外進行的保護對策,可使用切斷快速短路電流的方法,通過熔斷器進行保護,不僅可保護負荷短路,還對地線有保護作用.但是,由于開關內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達不到100%的效果.

4. 干擾波導致的破損

由干擾波帶來的破損是慢慢形成的,因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的.因此,在該期間發(fā)生破損時,其原因則可判斷為干擾波.電感負載開閉時發(fā)生的檢測開關的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的.

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