檢測(cè)開(kāi)關(guān)的用途及使用方法 

檢測(cè)開(kāi)關(guān)根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出使用方法.

1.接點(diǎn)輸出式

以微型開(kāi)關(guān),、限位開(kāi)關(guān),、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開(kāi)關(guān)要素,與電磁開(kāi)關(guān),、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的,可進(jìn)行數(shù)安培電流的開(kāi)關(guān)控制.與電子控制設(shè)備連接時(shí),需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流.

2.光電耦合輸出式

檢測(cè)電路電氣絕緣,與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同.可控制10～50mA電流的開(kāi)關(guān).

3.直流3線式

a. 電壓輸出型

進(jìn)行檢測(cè)時(shí),向負(fù)荷輸出電壓信號(hào).電壓輸出型主要是以連接由電子計(jì)數(shù)器、無(wú)接點(diǎn)繼電器等的晶體管或IC構(gòu)成的電子控制設(shè)備為目的而制造的.

b. 電流輸出型

亦可稱(chēng)為開(kāi)放、集電極輸出型.輸出晶體管動(dòng)作時(shí),有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源).輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管,則可進(jìn)行50～200mA電流的開(kāi)關(guān),并可直接進(jìn)行電磁繼電器,、電磁閥、直流電磁器,、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng).

4. 直流2線式

該方式的接近開(kāi)關(guān)有2根導(dǎo)線,因此,使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話,不僅使用方法可與機(jī)械式限位開(kāi)關(guān)相同,而且配線簡(jiǎn)單,但需注意下述狀況.

(1) 即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài),也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流.為此,負(fù)荷中有微量電流流動(dòng).該電流稱(chēng)為漏電流.漏電流時(shí),負(fù)荷兩端產(chǎn)生"漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因.初期故障的發(fā)生時(shí)間,根據(jù)制造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi).

2.偶發(fā)故障

包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障,電阻,、電容的斷線、短路,、容量不足,電路板的電路斷裂,、帶焊料等的不良現(xiàn)象,但發(fā)生率極低.接近開(kāi)關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí),可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題,請(qǐng)向廠家咨詢(xún).

3.負(fù)荷短路與配線錯(cuò)誤

由于配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí),導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開(kāi)關(guān),輸出回路燒毀.作為在檢測(cè)開(kāi)關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策,可使用切斷快速短路電流的方法,通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù),不僅可保護(hù)負(fù)荷短路,還對(duì)地線有保護(hù)作用.但是,由于開(kāi)關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達(dá)不到100%的效果.

4. 干擾波導(dǎo)致的破損

由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的,因此在開(kāi)始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的.因此,在該期間發(fā)生破損時(shí),其原因則可判斷為干擾波.電感負(fù)載開(kāi)閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)開(kāi)關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的.

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